扫描电子显微镜
场发射扫描电子显微镜YF-2800
具备出色的低压高分辨成像能力,配备热场发射电子枪(Schottky FEG),在获得高分辨的同时保证束流的稳定性。电子光学设计中融入了先进的全镜筒加速技术,确保了低加速电压下电子束优异的成像性能。采用电磁-静电/复合浸没物镜设计,进一步提升系统的高分辨成像能力。优化的探测系统,能够高效收集低电压下的二次电子和背散射电子信号,可以在低电压下对不导电样品进行直接观察,减少对样品的辐照损伤,揭示样品的表面微观形貌和结构信息。
作为一款创新的多功能样品制备和分析系统,突破性地将宽束氩离子枪集成于扫描电镜的样品室内,成功实现了离子束原位抛光以及高分辨电子束成像分析的无缝衔接,无需繁琐的样品转移流程极大地提升了分析效率。 ABSEM 200 所搭载的宽离子束技术,具备强大的处理能力,能够轻松应对毫米级的大尺寸样品,极大地拓宽了其应用范围。掠射角的设计可以有效降低在处理过程中对样品造成的损伤,确保了样品的完整性和原始状态。纳米级层切模块能够精准控制去层厚度,且独有的杂屑捕获装置确保系统稳定运行,有效避免了杂屑对实验的干扰和潜在风险。 ABSEM 200特别适用于环境敏感或结构复杂的样品
扫描电子显微镜(SEM)是利用聚焦高能电子束扫描样品表面,通过收集激发产生的二次电子、背散射电子等信号成像的精密分析仪器。它可获取样品表面微观形貌图像,具备景深大、分辨率高、成像富有立体感的特点,能够观察微米至纳米尺度的细微结构,广泛应用于材料、半导体、生物、地质、化工等领域,是微观表征的核心设备。
产品参数
氩离子束场发射扫描电子显微ABSEM200
• 界面布局清晰简练
• 人体工学键盘设计
• 配备多种安全互锁
• 操作简捷流畅
用户界面